2026-11-092026-11-09https://scholars.csmu.edu.tw/handle/123456789/37127易脆X染色體徵候�是最常見之智力不足原因 之一,由染色體異常所造成的智障中僅次於唐氏 症(Down Syndrome),位居第二,一般而言,約每八百五十 人中有一人帶有此異常基因,而男性患者通常無 生育能力,由此可知發生新突變的機率非常高.細胞遺傳學之研究顯示,要誘發易脆X染色體顯現 需有下列條件之一,否則不易顯現.�培養細胞的培養液中,不能含有Thymidine, Hypoxanthine,及FolicAcid,如M Medium.�於一般培養液中加過量Thymidine,抑制Thymidine Kinase.�於一般培養液中加FUdR,其代謝產物FdUMP及F/sub 3/ dTMP抑制Thymidylate Synthetase.以上均會抑制dTTP之合成,間接影響DNA之複製.近來有幾個實驗室已經選殖到易脆X染色體基因, FMR-1的cDNA與Genomic DNA.,經研究顯示,此基因含有一 □CpG島'(CpG Island),此區域在正常活化染色體(Active X)為不甲基化(Unmethylated);在正常不活化X染色體( Inactive X)為甲基化(Methylated),而在易脆X染色體上, 不論該染色體是在活化或不活化狀態,此區域均 被高度甲基化(Hypermethylated).此外,緊臨□CpG島'下 游之exon有CGG三個一組的核酸序列,於正常FMR-1基 因重複達28-54次,但在易脆X染色體,此序列則重複 多達100-1300次或更多,正常之FMR-1可表現出mRNA,異 常的則否.易脆X染色體FMR-1基因CpG島DNA超甲基化Fragile XFMR-1 geneCpG islandDNA hypermethylationProject